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资料分类 > 数据手册 > Flash > 提高早期设计周期的 LVS 验证效率

提高早期设计周期的 LVS 验证效率  20200916133820.pdf

资料格式:.pdf 上 传 者: ccf 下载次数:58
上传时间:2020-09-16 13:09:40  资料大小:944.96 KB

说明:

利用创新的 Calibre® nmLVS-Recon™ 早期验证工具,设计人员可以在早期设计阶段对模块、宏和芯片运行针对性的短路隔离分析和调试。Calibre nmLVS-Recon 短路隔离使用模型专注于实现快速、高效、优先的短路隔离和短路路径调试。

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