首页 > 下载中心 > 数据手册 > Flash > 提高早期设计周期的 LVS 验证效率
| 资料名称 | 提高早期设计周期的 LVS 验证效率 |
| 分类 | 数据手册 > Flash |
| 简介 | 利用创新的 Calibre® nmLVS-Recon™ 早期验证工具,设计人员可以在早期设计阶段对模块、宏和芯片运行针对性的短路隔离分析和调试。Calibre nmLVS-Recon 短路隔离使用模型专注于实现快速、高效、优先的短路隔离和短路路径调试。 |
| 下载次数 | 858次 |
| 下载所需积分 | 0分 |
| 上传者 | ccf |
| 文件名 | 20200916133820.pdf |
| 资料格式 | |
| 资料大小 | 944.96 KB |
| 上传时间 | 2020-09-16 13:38:40 |
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