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资料分类 > 经验分享 > 嵌入式系统 > ARM JTAG 调试原理

ARM JTAG 调试原理  ARM JTAG 调试原理.rar

资料格式:.rar 上 传 者: 网络资源 下载次数:20
上传时间:2007-09-06 14:09:00  资料大小:442 KB

说明:

本文主要介绍 ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍,在此基础上,结合 ARM7TDMI 详细 介绍了的 JTAG 调试原理。

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